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STM7测量显微镜系列
¥700000DSX5103D数码显微镜
¥700000BX53M/BXFM工业正置显微镜
¥700000OLS4500扫描探针显微镜
¥650000OLS5000 3D测量激光显微镜
¥600000DSX110奥林巴斯光学数码显微镜
¥750000CIX100奥林巴斯技术清洁度检测系统
¥750000QL-30™轮廓投影仪
¥2450000QL-20™轮廓投影仪
面议1Focus 型号
¥2350000ShapeGrabber Ai810ShapeGrabber线激光扫描测量仪
¥1650000Ai310ShapeGrabber线激光扫描测量仪
¥1330000VIEW Pinnacle+Plus将Pinnacle性能提升到下一个等级
Pinnacle+Plus拥有坚硬的花岗岩支撑结构和高性能的Z轴移动组件,使测量微电子零件和组件时产生尽可能低的不确定性.
好的线性马达控制技术造就了运行速度快,可靠的免维护平台,满足了从无尘室到工厂车间的生产环境中,大容量,高性能的操作。
特征:
X,Y,Z 行程 (毫米):250 x 150 x 50
X,Y,Z 光栅尺分辨率:XY - 0.05 μm, 零膨胀材料,Z - 0.01μm, 零膨胀材料
平台驱动系统:无摩擦高速线性马达驱动 X&Y, 直流伺服马达驱动 Z
速度:X,Y - 100 mm/sec / Z - 25 mm/sec
承载量:25 kg
光学系统 :单倍放大, 工厂安装背光的镜头和视场交换式前透镜标配为VIEW 1X 背管,5X镜头
计量软件
可选项: Elements
可选项Measure-X
可选项软件模块:
区域多点自动聚焦
连续捕获图像 (CIC)
*的图像滤光和图像拼接,自定义
UI操作软件
MeasureFit Plus
SmartProfile
3D GD&T 评估软件
VMS 离线编程软件
数字输入/输出Digital I/O
Benchmark的应用范围包括:
半导体/电子
BGA, μBGA, CSP, 倒装芯片, MCM, bump-on-die
引线框,引线接合,柔性线路板,连接器
SMT元件贴装
锡膏/环氧数脂胶点
芯片载体和托盒
喷墨打印机墨盒
光纤组件和MEMs
数据存储
悬置件
滑块和悬臂组(HGA)
磁盘介质基板
精密注塑和机加工件
模具和刀具