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XTR-400B熔体流动速率仪
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面议德国斯派克全谱电感耦合等离子体发射光谱仪ICP(BLUE)
面议国斯派克全谱电感耦合等离子体发射光谱仪 ICP(ARCOS)
面议德国斯派克落地式直读光谱仪SPECTRO MAXx(LMX07)
面议德国斯派克 小焦点偏振能量色散XRF(MIDEX)
面议德国斯派克全谱电感耦合等离子体发射光谱仪ICP德国斯派克偏振型 XRF(
面议德国斯派克台式直读光谱仪SPECTRO MAXx(LMX07)
面议快速水分测定仪
面议塑料颗粒水分测定仪
面议全自动电子密度计LSD-100E
面议Bettersize3000激光图像粒度分析仪的激光散射系统为双镜头斜入射光学系统,同时设一个大约15倍的成像系统用来查看粗颗粒(>50μm)图像和测量粒径(D100)。
双镜头斜入射光学系统是由大功率泵浦偏振激光器、进头组、石英样品池和全角度光电探测器阵列组成。由于采用了高性能的镜头和*的激光斜入射结构,在单光束条件下实现了全角度散射光信号的接收——这是百特原创的技术。这种技术不仅达到了进口仪器的用多光束技术来扩大散射光角度的效果,还避免了多光束技术造成的间断散射光信号的连接偏差和多波长造成的样品折射率偏差,使测试结果更准确,同时实现了对纳米、微米甚至毫米级样品的准确粒度测试。由于探测器数量多和结构*,该仪器具有*分辨单峰、双峰和多峰样品的能力。同时,该仪器还具有样品折射率测量计技术、自动对中技术、防干烧超声波分散技术、SOP技术、大功率短波长偏振光技术等,进一步保证了重复性、准确性和分辨力。
单路显微成像系统并联在激光散射系统中,可随时拍摄流动中的粗颗粒图像。更重要的是,这个显微成像系统能准确捕捉到样品中的颗粒,实现了D100的有效测量,弥补了激光粒度仪无法测试D100的缺憾,为锂电池等领域提供了准确测试D100的可靠手段。
Bettersize3000激光图像粒度粒形分析仪还具有折射率测量技术、自动测试技术、自动进水、自动排水、自动消除气泡、自动清洗技术、颗粒图像快速识别技术、样品复配技术等,综合性能达到或超过进口仪器水平,特别适合大企业、高校、研究院所等实验室。
测试范围 | 0.01-3500μm | 进样方式 | 自动循环分散系统 |
重复性误差 | ≤0.5%(国标样D50偏差) | 准确性误差 | ≤0.5%(国标样D50偏差) |
测量原理 | 米氏散射理论 | 测量方式 | 自动测量(SOP),自动对中 |
测量时间 | ≤10秒 | 激光光源 | 偏振泵浦固体激光器(10mW/532nm) |
光路系统 | 斜入射双镜头光路系统 | 露点温度测量 | 有 |
折射率测量范围 | 1.4-3.6 | 操作系统 | WinXP/Win7/Win8/Win10 |
接口方式 | USB2.0或3.0 | 光电探测器 | 96个 |
超声波功率 | 50W | 循环池容积 | 600ml |
循环流量 | 3000-8000ml/分钟 | 产品复配 | X产品+Y产品=Z产品 |
电压 | AC220V,50/60Hz | 体积、重量 | 820×610×290mm,47kg |