BETASCOPE

在所有 FISCHER 测量仪器中，BETASCOPE 可提供zui多的涂镀层组合。通过 β 射线方法，BETASCOPE 无需依赖于样品的磁性或电特性即可测量涂镀层厚度。因此，它能够测量任何底材上任何涂镀层的厚度，只要涂层材料与底材的原子序数相差至少为 5 即可。作为通用测量系统 MMS PC2 的插件模块，BETASCOPE 能够与许多其他测量技术相结合，同时还可利用 MMS PC2 的优势。

特性：

• 通过 β 射线背散射法进行无损测量
• 可测量几乎所有的涂镀层与底材组合
• 无需任何特殊制备，可随时测量；测量过程只需几秒钟
• 测量无需任何化学品或耗材
• 测量符合标准 DIN EN ISO 3543 与 ASTM B567a
• 作为通用测量系统 MMS PC2 的插件模块进行使用
• 多种附件可供选择

应用领域：

• 纳米涂层
• 太阳能电池涂层
• 单层电镀层
• 各种底材上的有机涂层
• 防腐蚀涂层，如金属生产与加工行业中的油覆层
• 薄膜、纺织品、织物以及其他有机涂覆层