霍梅尔/Hommel(Jenoptik) 品牌
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nanoscan855 能以0.6 纳米的高分辨率测量zui精细表面的粗糙度,测量行程宽度为 24 毫米,并且探测长度为 200 毫米。即使在zui小的公差下,它也能可靠地进行测量。正因如此,该系统广泛用于各种需要zui高精密度的应用场合,例如制造滑动轴承、滚动轴承和滚珠轴承。
nanoscan 与向上/向下测量相结合,可以用于执行范围广泛的测量任务:
测量哥特式弧形
曲面的粗糙度测量
min小粗糙度公差的测量
圆锥角测量:得益于向上/向下测量,可以用zui高精度测量jue对圆锥角
使用软件中的强大评估选项比较目标/实际形状
测量运行基本上是自动化的。系统会检测正在使用哪个探臂,并相应地自动设置测量条件。探臂以磁力连接到测量仪。这意味着可以快速地更换探臂。业纳可以为每个测量任务提供合适的探臂。还可以轻松扩展测量系统,以便根据您的个人需求准确定制。
nanoscan 855 甚至采用粗糙度轮廓度一体式传感器,这使它非常适合执行表面测量领域的所有测量任务。该测量仪可节省时间,且具有成本效益。