武汉高低温冲击测试实验箱价格
武汉高低温冲击测试实验箱价格

TSL武汉高低温冲击测试实验箱价格

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1000 1

具体成交价以合同协议为准
2020-03-19 10:36:48
746
属性:
产地:国产;类型:温度冲击试验箱;销售区域:全国,华东,华南,华北,华中,东北,西南,西北,港澳台,海外;
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产品属性
产地
国产
类型
温度冲击试验箱
销售区域
全国,华东,华南,华北,华中,东北,西南,西北,港澳台,海外
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产品简介

武汉高低温冲击测试实验箱价格是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业*的测试设备,用于测试材料结构或复合材料,在瞬间下经*温及极低温的连续环境下忍受的程度,得以在zui短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。冷热冲击试验箱满足的试验方法:GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低温冲击试验。

详细介绍

一、武汉高低温冲击测试实验箱价格特点:

  1、采用欧美之防爆把手,操作容易,全新*的圆弧造型设计, 外观质感高水准,美观大方.

  2、产品外形美观、结构合理、工艺*、选材考究,具有简单便利的操作性能和可靠的设备性能。

  3、设备分为高温箱,低温箱,测试箱叁部分,采*之断热结构及蓄热蓄冷效果,试验时待测物*静止,应用冷热风路切换方式将冷,热温度导入测试区实现冷热衝击测试目的.

  4、采用的计测装置, 控制器採用大型彩色液晶人机触控对话式LCD人机介面控制器,操作简单, 学习容易, 稳定可靠,中,英文显示完整的系统操作状况、执行及设定程式曲线。

  5、具96个试验规范独立设定,衝击时间999小时59分鐘, 循环周期1~999次可设定, 可实现制冷机自动运转,zui大程度上实现自动化,减轻操作人员工作量,可在任意时间自动启动﹑停止工作运行;

  6、箱体左侧具一直径50mm之测试孔,可供外加电源负载配线测试部件。

  7、可独立设定高温、低温及冷热冲击叁种不同条件之功能,并于执行冷热冲击条件时,可选择二槽式或叁槽式及冷冲、热冲进行衝击之功能,具备高低温试验机的功能。

  8、可独力当作高温箱或低温箱使用,一机叁用.

  9、具备全自动,高精密系统回路、任一机件动作,*有P.L.C锁定处理,全部采用P.I.D自动演算控制,温度控制精度高.

  10、*科学的空气流通循环设计,使室内温度均匀,避免任何死角;完备的安全保护装置,避免了任何可能发生安全隐患,保证设备的*可靠性

  11、可设定循环次数及除霜次数自动(手动) 除霜.

  12、出风口于回风口感知器检测控制,风门机构切换时间为10秒内完成,冷热冲击温度恢复时间为5分钟内完成。

  13、运转中状态显示及曲线显示,发生异常状况时,萤幕上即刻自动显示故障点及塬因和提供排除故障的方法,并于发现输入电力不稳定时,具有紧急停机装置。

  14、冷冻系统采用复叠高效低温回路系统设计,冷冻机组采用欧美塬装进口压缩机,并採用对臭氧係数爲零的绿色环保(HFC)製冷剂R507,R23.

  16、*安全保护功能:电源过载保护、漏电保护、控制回路过载、短路保护、压缩机保护、接地保护、超温保护、报警声讯提示等。

  17、箱体内外部材质采用不锈钢板(SUS#304),外部材质有种不同外箱材质可供选择:

  * 纹路处理不锈钢表面,如经常顺着纹路擦拭,可使机器长时间保持崭新的外观(*此种选择)

  * 特殊防锈处理钢板静电喷涂表面,质地高档(依客户要求)

  18每个产品都根据客户的要求订做,保证了设备的高效节能,并在现场调试和验收,保证用户方的使用性能。

二、武汉高低温冲击测试实验箱价格用途

冷热冲击试验箱又名高低温冲击试验箱、中国台湾称为冷热冲击机,用于电子电器零元件、自动化零部件、通讯元件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,国防工业、航太、兵工业、BGA、PCB基扳、电子晶片IC、 半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的理想测试工具.

三、高低温冲击试验箱根据试验需求及测试标准分为三箱式和两箱式,区别在于试验方式和内部结构不同。三箱式分为蓄冷室,蓄热室和试验室,产品在测试时是放置在试验室。两箱式分为高温室和低温室,是通过电机带动提篮运动来实现高低温的切换,产品放在提篮里,是随提篮一起移动的。

四、设备满足以下标准
GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验A:低温
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验B:高温
GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则
GJB 150.3A-2009 实验室环境试验方法 第3部分:高温试验
GJB 150.4A-2009 实验室环境试验方法 第4部分:低温试验
GJB 150.5A-2009实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验
GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法107 温度冲击试验

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