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点胶和底部填充的空洞问题,对BGA及类似器件可靠性的危害很大,尤其是对于尺寸较大的BGA和CSP或WLP器件。为消除空洞,我们须清楚它的来源,虽然产生空洞的原因较为复杂,而空洞的位置和形状给提供了很多线索,可以帮助我们使用有效的方法去消除它。那么,产生空洞的原因主要有哪些,如何防范与检测呢?下面我将做简略的阐述。
空洞的检测与分析:
底部填充胶进行外观检查比较容易也很直观,但对于外观良好的器件,底部填充是否有空洞、裂纹和分层等缺陷,检测起来就比较复杂困难;图17B所示为CSP器件填充良好的外观。不过,对于新型的填充胶水验证、兼容性实验或不良品分析,底部填充效果检测。对此,有非破坏性检测和破坏性检查两种方法。
非破坏性底部填充异常检测,可以通过自动声波微成像分析技术。超声波对于实心材质几乎是透明的,只有遇到类似于裂缝或空洞异常时,声波检测传感器通过声学成像系统工具,才能反映出相应的异常状况,并测量出与芯片底部与填充有关的机械缺陷。这种工具首先确定好区域单位,然后测量出每个单位区域内的空洞、分层或裂纹,在声学性质所占的百分比。资料显示,空洞与焊点接触可能导致焊点失效,如果空洞很小又不靠近焊点可认为合格,比如图17C所示的空洞A是可接受的,而空洞B&C则不可接受。图17D所示为某产品空洞的声波微成像情况。
破坏性检查是指通过对异常位置进行切片,再使用光学显微镜进行外观检查。这处切片方法与焊点的切片分析相同,通过对器件底面平行的切片(FlatSection),结合光学显微镜检查填充胶的空洞、裂纹或分层不良,见图17A;如有需要,通过金相显微镜或电子扫描显微镜和能谱分析仪(SEM/EDX),进一步检查分析底部填充胶的微观结构。
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