脉宽可调（芯片缺陷检测用）

脉宽可调器（芯片缺陷检测用）此系列激光器为单模激光器，通过内置从输入的TTL/LVTTL数字信号中产生光脉冲。

脉宽可调纳秒激光器（芯片缺陷检测用）脉冲长度从1.5 ns -CW 连续可调，脉冲重频 从单脉冲- 250 MHz可调

脉宽可调纳秒激光器（芯片缺陷检测用）对于针对应用（热激光刺激(TLS),Thermal laser stimulation(TLS),芯片存储读取（BBRAM, SRAM）），有着如下特别优势:

• 需求：需要尽可能小的光斑来加工待测芯片的集中部分，并定位正作用的芯片具体位置。

  优势：激光器为单模激光器。输出纤芯尺寸为6μm，通过配套显微镜，可以将它聚焦到1μm以内，提高能流密度

  
  

• 需求：需要时间精度和时间灵活性来使激光脉冲与待测芯片同步、

  优势：每个激光器抖动小于8 ps。从而可以将PDM+与芯片同步，并在+/8ps时知道激光脉冲何时到达样品。可以选择从1.5纳秒到连CW 脉冲以及从单次发射到250兆赫的任何脉冲

• 芯片硅很厚，需要高功率

  优势：有通过定制，峰值功率定制可达10 W。一般测量需要约1 W的功率。在2 W单模激光功率水平下，可以很容易地影响你的芯片，即使是很厚的硅

• 可靠性和产品支持

  优势：该系列激光器都是设计激光器。没有光学移动部件或损失的风险。该模块是电子安全的，不会因操作不当而损坏。
  

PDM - HPP系列激光器参数

脉宽可调纳秒激光器（芯片缺陷检测用） 主要特征：

• 脉冲持续时间:1 ns (FWHM)

• 单次脉冲、burst mode 或 连续

• Max as 4 W峰值功率

• 抖动(< 8="">

• 可达 250 MHz重复频率

• 包含脉冲延迟发生器

• Python兼容

PDM HP 系列参数