芯片卡三轮往复循环测试仪根据Master 卡CQM项目对卡进行三轮测试，适用于对识别卡、带触点的集成电路卡进行三轮往复循环测试，将芯片卡放在机器测试滚轮之间，将芯片在三个钢制滚轮间循环测试100次，芯片前方滚动50次，芯片后方滚动50次，循环频率为0.5Hz，并在芯片上加一个8N的力，经过往复循环测试后验证ICC触点芯片功能是否正常。测试仪配有额外的一个15N砝码用于进行CQM标准*的测试。

三轮滚压测试仪主要技术参数：

1.型号：MX-SL

2.测试轮循环次数：前后循环各50次

3.测试标准参考: Mcd

4.CQM测试标准参考: P-22

5.测试方法参考: 10.3.22

6.CQM: 6.1.11-12.1.5.2 -16.1.18.2

7.电源: 110-220 V 50/60 Hz.

8.执行标准：GB/T 17554. 3-2006