二维测高仪（手动型）tesa m+h    tesa micro-hite

tesa测高仪是一台独立电源的测高仪。它适用于测量外表面、内表面、台阶、 深度和间距的尺寸，它还适用于测量形状和位置误差，例如垂直度和直线度。
tesa测高仪的功能特点:
tesa测高仪是一台独立电源的测高仪。它适用于测量外表面、内表面、台阶、 深度和间距的尺寸，它还适用于测量形状和位置误差，例如垂直度和直线度。

本测高仪是一个模组化设计系统，故用户可根据使用要求，选购所需要的部分。

操作者能借助内装电子泵产生的气垫，轻快地使测高仪在平面上移动。

被测值即刻在控制台上显示、无需操作者作费时的人为运算。

可作1维测量、2维测量、角度测量。

可编制和执行1维或2维测量程序，包括公差和统计计算（x、cp、cpk、等）

可存储99个测量程序，每个程式可64个参数，共可存储3000个测量结果。

技术描述

性能指标
1、二维测高仪技术资料：

型 号 测量显示范围 zui大误差

micro-hite 　　600 　　 615mm （2+3l）um

micro-hite 　　900 　　 920mm （2+3l）um

测量不确定度（2+3l）毫米（l单位米）

重复性+2s-2s小于等于2um

用tesa ig-13测头（no.07.60140）时，垂直度和直线度的zui大测量误差：（正向测量和侧向测量时）：3um

控制台上显示的解析度：0.0005/0.001/0.01/0.1/1mm

允许测头移动速度：300mm/s

取样时测力1.6n正负0.25n

介面rs232
长度标准采用光栅。

为了保证仪器精度*不变，测量头的自动装置和导轨系统是相互分开的悬挂式。

不论测高度，还是测垂直度、直线度，对系统误差均进行修正，从而提高了测量精度。

可在内置打印机上打印，也可输出到外接打印机在a4纸上打印。

测圆表面时，可自动搜索到转折点。

测头直径值自动补偿，即可作补偿测头直径值的测量。

测量时也可表示链式尺寸。

可显示变动量从而用作平行度误差等的测量。

测量值可直角坐标值显示，也可极坐标值显示。

检测后，可以逐一对存储的测量结果进行检查，以检查有无粗大差错。

可作坐标原点平移、坐标旋转，从而建立要求的坐标系。

可以设置理论点（虚点）。

由在一圆周上均匀的几个实际圆测量，计算它们的回归圆直径，回归圆的圆心位置。

使用ig-13测头，可以测垂直度、直线度，测量结果可打印曲线，可显示实际垂直度的zui小
二乘直线的直线度误差。

对测量文件可进行检查修改、删除、复制。

可提供统计分析软件。

具有系统"自测"检查功能。