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走进雷尼绍REVO®五轴测量系统

2023-09-05 11:50:115323
来源:雷尼绍Renishaw
  【机床商务网栏目 产品评测】自1972年推出第一款触发式坐标测量机测头以来,雷尼绍为坐标测量领域带来了一场翻天覆地的革命,从此一直引领着全球工业计量技术的发展,始终如一地为业界推出创新科技。其中,由雷尼绍独立研发和生产的REVO®五轴多类型传感器系统,以五轴技术提升测量能力,推动了行业测量技术的飞跃式发展。
 

 

  五轴多类型传感器
 
  测量系统
 
  REVO五轴测量系统能够在同一台坐标测量机 (CMM) 上执行高性能扫描测量、非接触式测量和表面粗糙度分析。该系统采用同步运动和五轴联动测量技术,极大降低了坐标测量机在超高测量速度下的动态误差。这是通过在坐标测量机做慢速线性运动的同时,由REVO-2测座完成要求的快速运动来实现的。采用灵活的端部感应技术进一步增强了系统的精度和性能。可拆卸的测头系统配用自动交换架,提高了系统灵活性。
 
  REVO三大特性—速度、精度、灵活性
 
  REVO五轴测量系统可安装在新坐标测量机上,也可作为获得认证的升级选件安装在现有坐标测量机上。
 
  测量速度快
 
  测量速度高达500 mm/秒,从而提高工件测量效率
 
  数据采集速度高达每秒4,000个点
 
  通过无级定位和五轴运动,减少在切换工件特征之间的非生产性转换时间
 
  通过推论校验所有位置实现快速标定,从而增加测量时间
 
  系统精度高
 
  五轴扫描技术可减少坐标测量机的运动以及由此产生的动态误差
 
  扫描测力极低,可在减小测针扰度变形的同时降低测针磨耗
 
  通过无级定位和五轴运动,可测量之前难以接近的特征
 
  端部感应技术进一步增强了系统的精度和灵活性,将由测针扰度变形带来的误差降至最小
 
  灵活性强
 
  从测座旋转中心轴向延长高达800 mm
 
  具备多类型传感器测头和测针自动交换能力
 
  雷尼绍UCCserver软件应用程序(基于I++ DME命令协议)为REVO-2控制器提供接口
 
  可拆卸的测头系统配用自动交换架,提高了系统灵活性
 
  标定速度更快
 
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  对传统的坐标测量机用测量系统进行标定需要花费大量时间,而这些时间本可用来测量工件。REVO-2采用的标定方法是使用安装在工作台上的标准球做整体推论校正,这种方法简单实用,可测定测座和测头的实际几何尺寸,通过一次操作即可在任意位置进行测量。
 
  如果坐标测量机仅用于测量单个或有限数量的工件,通常可能会使用10个测座方向。对这些位置进行标定可能需要30分钟左右。REVO-2仅需要20分钟即可完成。
 
  如果坐标测量机用于测量多个工件,则通常可能会使用40个测座方向,这将标定时间延长到大约2小时。而REVO-2仅需要20分钟即可完成。
 
  REVO五轴测量技术
 
  测座碰触
 
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  在需要测量位置和尺寸的被测特征上,可以利用REVO驱动系统的性能或结合坐标测量机 (CMM) 的XYZ轴来采集离散点。REVO坐标测量机系统的测座碰触功能能够满足测量点少但测量速度高的要求。
 
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圆扫描
 
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  圆扫描是定义的程序,通过每秒最多采集4,000个数据点来扫描圆形特征。REVO通过定义预期路径,利用其两轴驱动系统跟踪表面,并尽可能降低对坐标测量机三个轴移动精度的影响。圆扫描非常适用于内孔,例如形状至关重要的发动机缸体。
 
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圆柱扫描
 
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  圆柱扫描是沿圆柱体或圆锥体内侧或外侧的轴移动。在扫描过程中,圆柱扫描以每转相等的长度沿轴横向移动。由此形成螺旋路径,在整个定义的长度上采集大数据点集。
 
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垫片扫描
 
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  垫片扫描非常适用于在扫描操作过程中跟踪不一致的路径。通过沿着预期路径定义目标点,REVO将在采集大数据点集时混合点之间的路径,从而尽可能减少坐标测量机的运动。垫片扫描在完全五轴运动控制下进行。
 
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滑行扫描 — 平面
 
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  利用REVO驱动系统来回扫过平面来采集数据点,同时坐标测量机驱动系统在恒定速度下沿着单一矢量方向移动。这个过程尽可能降低了坐标测量机结构在高速扫描表面时固有的不准确性。
 
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滑行扫描 — 曲面
 
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  在滑行扫描过程中,REVO驱动系统通过控制测针的接触压力来适应变化的表面形状。坐标测量机的驱动方向一致,因而尽可能降低了坐标测量机结构固有的不准确性。因此,可在采集大数据点集时提供表面跟踪能力,非常适用于测量叶片型面。
 
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       截面扫描 —
 
  绕叶片截面执行区域带状旋转扫描
 
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  使用测量软件和REVO的截面扫描功能可检测叶片截面或其他外部形状。这种扫描技术可以通过CAD模型定义一个截面,实现一次完成测量作业。利用REVO的无级定位能力,坐标测量机环绕工件移动,同时REVO控制碰触位置。
 
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REVO五轴测量系统帮助坐标测量机充分提升测量效率,同时保持极高的系统精度。

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