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SP920s光束分析儀(光斑分析)Beam Profiler

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2023-10-13 11:36:59: 281

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先锋科技股份有限公司

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试用会员第2年

产品简介

SP920s光束分析儀(光斑分析儀)BeamProfiler可以精確地捕獲並分析190nm到1100nm的波長，在1070nm的響應要優於其他所有相機

详细内容

Ophir

SP920s光束分析儀(光斑分析儀) Beam Profiler可以精確地捕獲並分析190nm到1100nm的波長，在1070nm的響應要優於其他所有相機。設計緊湊、動態範圍寬，並具有極為出色的信噪比和USB 3.0接口，使其成為測量CW和脈衝雷射的理想選擇。

1624 x 1224像素分辨率，含4.4µm像素間距
全分辨率下為15 fps
包括BeamGage標準或專業軟體

SP920s光束分析儀/光斑分析儀特點

符合ISO標準
採用獲得技術的UltraCal演算法，精度的測量儀
採用“自動設置”和“自動曝光”功能進行快速設置和精度優化

SP920s光束分析儀/光斑分析儀測量參數

光斑形狀/尺寸大小
二維/三維空間強度分佈
直徑D4α(D4αM長軸/D4αm短軸)
質心位置(X,Y座標)
長寬比
峰值位置
發散角量測

SP920s光束分析儀/光斑分析儀主要參數

Wavelengths：190-1100nm
Beam Sizes：44μm – 5.3mm
Interface：USB 3.0
Sensor Type：Silicon CCD
Compatible Light Sources：CW, Pulsed

SP920s光束分析儀/光斑分析儀

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