霍梅尔NanoScan高精密粗糙轮廓度测量仪可以在一个测量流程内组合测量粗糙度和轮廓，柔性大，能够满足表面测量技术的所有需求，既省时，又省费用。
| 技术特点 | 主要特点 |
| ▪电子测头臂识别技术 | ▪超精密的光机探测系统 |
| ▪探测头的电子保护装置 | ▪通用性好 |
| ▪电子调节探测力 | ▪极富人性化的设计 |
| ▪高精度的测头臂定位 | ▪测头臂的选择范围广 |
| ▪可上下测量 | ▪创新的技术 ▪校准方法简单 ▪新的评价可能：可上下测量，测量工件表面形貌时的测量行程大 |
校准方法 |
带电子识别功能的测头臂支架 由于使用了磁性测头臂支架，所以测头臂的更换迅速可靠 |
可上下测量 测头臂安装了双探测头，所以一次运行可上下探测 |
霍梅尔-艾达米克NanoScan
| 选项 | 供货范围 |
▪用于特殊测量需求的粗糙度和轮廓测头臂 ▪经过认证的qs-STAT接口（AQDEF）。 ▪轮廓标准块KN8 ▪可保护测量系统免受环境影响的护罩
| ▪带22'TFT显示屏的评价电脑，CD刻录器，粗糙度和轮廓测量评价软件 ▪具有自动保存功能的PDF打印机 ▪wavecontrol™basic操作面板 ▪包含3个带金刚石探测头或红宝石测头的测头臂 ▪粗糙度标准块RNDH2 ▪用于紧固工件的测量台MT1 XYO ▪校准用球形标准件
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| 型号 | NanoScan855 |
| 测量范围 | R+C：24/48mm |
| 分辨率 | R+C：0.6/1.2nm |
| 水平测量范围/水平分辨率 | 200mm/0.01μm |
| 测量立柱行程 | 550mm |
| 硬岩石板 | 850x600mm |