机械相移式干涉条纹分析系统产品型号：太科波长调谐式干涉条纹分析系统是一套用于检测光学元件面形的专业工具。该系统通过改变激光的波长产生相移，形成干涉条纹，再利用专门的算法，分析和计算各个相位的干涉条纹图像，从而还原出被检件的波面信息。除了可以通过形象直观的等高图、二维剖面图和三维立体图等方式表达被检件的波面数据，还可以计算和显示被检件的Zernike多项......
机械相移式干涉条纹分析系统产品型号：太科波长调谐式干涉条纹分析系统是一套用于检测光学元件面形的专业工具。该系统通过改变激光的波长产生相移，形成干涉条纹，再利用专门的算法，分析和计算各个相位的干涉条纹图像，从而还原出被检件的波面信息。除了可以通过形象直观的等高图、二维剖面图和三维立体图等方式表达被检件的波面数据，还可以计算和显示被检件的Zernike多项式、MTF、PSD、PSF和波前梯度、数字滤波等多种光学参数。
