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1、双端口检测;
2、大口径元件面形检测;
3、测量光学元件的材料均匀性;
4、平行平板元件多表面测试;
5、元件面形分析,光学数据处理。
序号 | 指标名称 | 指标参数 |
1 | 测试结构 | 卧式双端口; |
2 | 测试口径 | 大端口:有效口径≥φ450mm; 小端口:有效口径≥φ100mm; |
3 | 相移方式 | QPS波长调谐相移或机械相移解相; |
4 | 测试光源 | 波长调谐相干光源,λ=632.8nm,相干长度≥100m; 可选氦氖相干光源,λ=632.8nm(用于机械相移) |
5 | CCD指标 | 可选分辨率≥1.2K×1.2K,或分辨率≥2.3K×2.3K, 或分辨率≥3.4K×3.4K; |
6 | φ800mm标准楔形镜(TF镜) | 标准面面形:PVr优于λ/20,中频误差PSD1小于0.9nm,进口熔石英材料; |
7 | φ800mm标准反射镜(RF镜) | 标准反射面面形:PVr优于λ/20,中频误差PSD1小于0.9nm,进口微晶材料; |
8 | 系统传递函数 | ITF ≥ 0.7 @ 0.4 mm-1(φ450mm大端口系统); |
9 | 系统精度 | 系统精度:系统空腔精度PVr优于λ/15,中频误差PSD1小于0.9nm(φ800mm有效口径内); |
10 | 系统重复性精度 | 系统重复性精度:系统RMS重复性优于λ/2000(2σ); |
11 | 调焦范围 | 调焦范围:光瞳调焦范围≥±2m; |
12 | ZOOM变焦 | 1-6X光学变焦(1.2K) 或1X光学变焦,50X数字变焦(2.3K/3.4K); |
13 | 测试对准方式与角度 | 测试对准方式与角度:快对准与精密对准方式,对准角度≥±15°/±3°; |
14 | 波长调谐相移分析软件 | 输出峰谷值(PV)、标准偏差(RMS)、等高图、X-Y剖面图、三维立体图、干涉条纹图、MTF(光学传递函数)、PSF(点扩散函数),泽尔尼科多项式分析、赛德尔相差分析等; 分析软件可进行矩形、椭圆、正方形、圆、多边形等数据分析功能; 平行平板类元件测试功能(样品无需特殊处理),一次干涉条纹数据采集可同时得到,平行平板前表面面形、后表面面形,光学厚度变化; 具有材料均匀性测试分析功能; |
15 | 标准反射镜支撑调节 | 二维手动与电控角度调节,整体结构气浮大范围移动; |
16 | 测试工装 | 两维角度调节,一维平移调节,大范围气浮调节; |
17 | 气浮隔振平台 | 隔振平台,尺寸≤3800mm×1500mm |