CMS2

COULOSCOPE CMS2 系列仪器通过电解退镀方式测量镀层厚度。还可使用库仑法精确测定任何类型底材上的多镀层厚度。CSM2 STEP 版本可对单种镀层进行标准的STEP测试，以检测电位差（如多层镍涂层的质量控制）。

特性：

• 使用准确性高的电解退镀技术（库仑法），精确地测量多镀层的厚度
• 图形显示的交互方式，易于操作
• 适用性广泛：可测量金属和非金属底材上的镀层厚度，也适合测量多镀层厚度
• 提供全面的附件产品供您选择，可满足特定需求

应用：

• 金属和非金属底材上任何类型的金属镀层
• 单层或多层的镀层厚度测量
• 特别适用于通过 STEP 测试进行多层镍测量
• 适用于 0.05 µm 至 40 µm 的镀层厚度测量