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NANOMAP D 光学探针双模式三维形貌仪

参考价
面议
具体成交价以合同协议为准
2017-07-05 14:25:26
1118
属性:
产地:进口;
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北京亿诚恒达科技有限公司

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产品简介
简介:
美国AEP Technology公司主要从事半导体检测设备, MEMS检测设备, 光学检测设备的生产制造,是表面测量解决方案行业的*供应者,专门致力于材料表面形貌测量与检测。
详细内容

特点:
1.     结合了光学测量与探针测量的所有优点
2.     专业的SPIP分析软件
3.     适应各种应用领域,无论是大范围扫描还是高精度扫描
 
主要功能及应用:
多种测量功能
精确定量的面积(空隙率,缺陷密度,磨损轮廓截面积等)、体积(孔深,点蚀,图案化表面,材料表面磨损体积以及球状和环状工件表面磨损体积等)、台阶高度、线与面粗糙度,透明膜厚、薄膜曲率半径以及其它几何参数等测量数据。
薄/厚膜材料
薄/厚膜沉积后测量其表面粗糙度和台阶高度,表面结构形貌, 例如太阳能电池产品的银导电胶线
蚀刻沟槽深度,光刻胶/软膜
亚微米针尖半径选件和埃级别高度灵敏度结合,可测量沟槽深度形貌。
材料表面粗糙度、波纹度和台阶高度特性
分析软件可轻易计算40多种的表面参数,包括表面粗糙度和波纹度。计算涵盖二维或三维扫描模式。
 

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