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德国Mahr 马尔 MarSurf CM select 共聚焦显微镜,三维测量和分析

发布时间:2023/8/25 18:25:43
浏览次数:92

MarSurf CM select 是强大的可配置型共聚焦显微镜,用于表面的三维测量和分析 – 非接触,与材料无关,而且速度快. 


典型测量任务

粗糙度测量符合 

ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178

表面特征轮廓测量(包括体积、磨损、摩擦学)

轮廓和形状 (2D, 3D)

孔,颗粒分析

缺陷检测

根据应用调整的测量解决方案

作为一个多传感器系统,MarSurf CM select 将多种传感器技术结合到了一个测量设备中。也可以根据测量任务选择最佳的点传感器。MarSurf CM select 可以满足您对样品尺寸、自动化、测量舒适度和准确性的个性化要求 - 甚至全自动的测量解决方案。

最高数据质量

我们最重要的标准之一,即优异的精度、准确性、可再现性和文档记录,保证可追溯性和可审核性。我们为客户提供的最高服务就是提供能够可靠地用于工程、产品、工艺设计和质量控制领域的定量测量值。

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MarSurf CM select 
分辨率可达 2 (nm) 垂直
测量速度最高 100fps
工件最大重量 (kg)15 kg
测量原理共聚焦 
高性能 LED(505 nm / 白)
语言德语 , 英语 , 法语 , 意大利语 , 西班牙语 , 葡萄牙语 , 波兰语 , 俄语 , 土耳其语 , 中文 , 日语 , 韩语
其他xyz 方向碰撞检测
电源100 - 240 V
表面参数

ISO 4287, ISO 13565, ISO 25178, 

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我们产品的各种应用

机械工程 

鉴定和量化粗糙度、几何形状和磨损量 


电子和半导体 

亚微米级的组件检测,确保产品无缺陷 


医疗技术 

生产和实验室中医疗表面的质量保证 


材料科学 

新表面和产品的功能属性的优化 


微系统技术 

以纳米级精度测量最小组件的复杂表面几何形状





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